ميكروسكوب مركب A1
A63 Sem مجهر المسح الإلكتروني
شوتكي فيلد انبعاث بندقية المجهر الإلكتروني المسح الضوئي برو FEG SEM ، 15x ~ 800000x15x ~ 800000x Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscopeتسريع الشعاع الإلكتروني مع الإمداد الحالي للشعاع المستقر صورة ممتازة تحت الجهد المنخفضيمكن ملاحظة عينة عدم التوصيل مباشرة دون الحاجة إلى رشها في الجهد المنخفضسهل& واجهة عملية سهلة ، يتم التحكم في كل شيء بواسطة الماوس في نظام Windowsغرفة عينة كبيرة مع خمسة محاور Eucentric بمحركات كبيرة الحجم ، أقصى قطر للعينة 320 مم
