A63.7081 Schottky-Feld-Emissions-Rasterelektronenmikroskop Pro Feg SEM

<$$ >.Schottky-Feld-Emissions-Pistolen-Scanningelektronenmikroskop pro FEG SEM, 15x ~ 800000x<$$ >.15x ~ 800000x SCHOTTKY-Feld-Emissions-Pistole-Scannelektronenmikroskop<$$ >.E-Strahlbeschleunigung mit stabiler Strahlstromversorgung Versorgung Hervorragendes Bild unter Niederspannung<$$ >.Nicht-Leitungs-Probe kann nicht beobachtet werden, dass nicht in niedriger Spannung gesputtert werden muss<$$ >.Einfach<$$ >. Freundliche Bedienoberfläche, das alle per Maus in Windows System gesteuert werden<$$ >.Großer Probenraum mit fünf Achsen eigentlich motorisierter motorisierter Stufe Große Größe, MAX-Probe DIA.320mm<$$ >.
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<$$ >.Produktbeschreibung<$$ >.A63.7081 Schottky-Feld-Emissions-Rasterelektronenmikroskop Pro Feg SEM<$$ >.Auflösung<$$ >.1nm @ 30kv (SE); 3nm @ 1kV (SE); 2.5nm@30kv (BSE)<$$ >.Vergrößerung<$$ >.15x ~ 800000x.<$$ >.Elektronenpistole<$$ >.Schottky Emissionselektronenpistole<$$ >.Elektronenstrahlstrom<$$ >.10pa ~ 0,3 μA.<$$ >.Beschleunigung der Vatage.<$$ >.0 ~ 30kv.<$$ >.Vakuumsystem<$$ >.2 Ionenpumpen, Turbo-Molekularpumpe, mechanische Pumpe<$$ >.Detektor<$$ >.SE: Hochvakuum-Sekundärelektronenmelder (mit Detektorschutz)<$$ >.BSE:<$$ >.Halbleiter-vier Segmentierung Rückerstreuungsdetektor<$$ >.CCD.<$$ >.Bühnenstufe<$$ >.Fünf Achsen eigentliche motorisierte Stufe<$$ >.Reisebereich<$$ >.X.<$$ >.0 ~ 150mm.<$$ >.Y.<$$ >.0 ~ 150mm.<$$ >.Z.<$$ >.0 ~ 60mm.<$$ >.R.<$$ >.360º.<$$ >.T.<$$ >.-5º ~ 75º.<$$ >.MAX Probimendurchmesser.<$$ >.320mm.<$$ >.Änderung<$$ >.EBL; STM; AFM; Heizstufe; Kryostufe; Zugstufe; Micro-Nano-Manipulator; SEM + -Beadelmaschine; SEM + LASER etc.<$$ >.Zubehör<$$ >.Röntgendetektor (EDS), EBSD, CL, WDS, Beschichtungsmaschine usw.<$$ >.Vorteil und Fälle.

Die Rasterelektronenmikroskopie (sem) eignet sich zur Beobachtung der Oberflächentopographie von Metallen, Keramiken, Halbleitern, Mineralien, Biologie, Polymeren, Verbundwerkstoffen und eindimensionalen, zweidimensionalen und dreidimensionalen Materialien im Nanomaßstab (Sekundärelektronenbild, rückgestreutes Elektronenbild). Es kann verwendet werden, um die Punkt-, Linien- und Oberflächenkomponenten der Mikroregion zu analysieren. Es ist weit verbreitet in Erdöl, Geologie, Mineralfeld, Elektronik, Halbleiterfeld, Medizin, Biologiefeld, chemischer Industrie, Polymermaterialfeld, strafrechtliche Ermittlungen in den Bereichen öffentliche Sicherheit, Land- und Forstwirtschaft und anderen Bereichen.

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