Microscopio de barrido A6

losmicroscopio de barrido láser utiliza una fuente de luz puntual para iluminar la muestra, formando un punto pequeño y bien definido en el plano focal. La luz fluorescente emitida por este punto es recogida por la lente del objetivo y enviada de vuelta al divisor de haz compuesto por un espejo bidireccional de color a lo largo de la trayectoria de la luz de irradiación original. . El divisor de haz del microscopio de escaneo láser envía la fluorescencia directamente al detector. Hay un agujero de alfiler delante de la fuente de luz y el detector, que se denominan agujero de alfiler de iluminación y agujero de alfiler de detección, respectivamente.


Microscopio de fuerza atómica A62.4501
Microscopio de fuerza atómica A62.4501Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. Profesional A62.4501 fabricantes de microscopios de fuerza atómica, más de 200 microscopios de venta caliente& Modelos más nuevos actualizados cada mesModos de operación Modo de contacto, modo de golpeteo, fase, fricción, MFM, EFM Ángulo de escaneo 0~360°, Tamaño de muestra ≤90 mm, H≤20 mm, Movimiento de muestra 0~20 mm,máx. rango de escaneo X/Y: 20 μm, Z: 2 μm, ancho de pulso del motor que se acerca 10 ± 2 ms,Resolución X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05 nm, Ampliación del CCD Ampliación óptica: 4X, Resolución 2,5 μm,Tasa de escaneo 0.6Hz~4.34Hz Puntos de datos 256 x 256,512 x 512Control de exploración XY: D/A de 18 bits, Z: D/A de 16 bits, tipo de retroalimentación DSP retroalimentación digital, muestreo de datos Un A/D de 14 bits y doble A/D de 16 bits multicanal simultáneamente,Tasa de muestreo de retroalimentación 64.0KHz, USB2.0, Compatible con Windows 98/2000/XP/7/8
A63.7081 Schottky Field Emission Gun Microscopio electrónico de barrido Pro FEG SEM
Pistola de emisión de campo Schottky Microscopio electrónico de barrido Pro FEG SEM, 15x~800000xMicroscopio electrónico de barrido con pistola de emisión de campo Schottky 15x~800000xAceleración del haz de electrones con suministro de corriente de haz estable Imagen excelente con bajo voltajeLa muestra de no conducción se puede observar directamente, no es necesario pulverizarla en baja tensiónFácil& Interfaz de operación amigable, todo controlado por mouse en el sistema WindowsSala de muestras grande con etapa motorizada eucéntrica de cinco ejes de gran tamaño, muestra máxima Dia.320mm
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