Microscope à balayage A6

Lamicroscope à balayage laser utilise une source lumineuse ponctuelle pour éclairer l'échantillon, formant une petite tache bien définie sur le plan focal. La lumière fluorescente émise par cette tache est collectée par la lentille d'objectif et renvoyée au séparateur de faisceau composé d'un miroir coloré bidirectionnel le long du trajet lumineux d'irradiation d'origine. . Le séparateur de faisceau du microscope à balayage laser envoie la fluorescence directement au détecteur. Il y a un trou d'épingle devant la source lumineuse et le détecteur, qui sont appelés respectivement trou d'épingle d'éclairage et trou d'épingle de détection.


Microscope à force atomique A62.4501
Microscope à force atomique A62.4501Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. Fabricants professionnels de microscopes à force atomique A62.4501, plus de 200 microscopes à vente chaude& Nouveaux modèles mis à jour chaque moisModes de fonctionnement Mode contact, mode taraudage, phase, friction, MFM, EFM Angle de balayage 0 ~ 360 °, taille de l'échantillon ? ≤ 90 mm, H ≤ 20 mm, mouvement de l'échantillon 0 ~ 20 mm,Max. plage de balayage X/Y : 20 μm, Z : 2 μm, largeur d'impulsion du moteur en approche 10 ± 2 ms,Résolution X/Y : 0,2 nm, Z : 0,05 nm, Grossissement du CCD Grossissement optique : 4X, Résolution 2,5 μm,Taux de balayage 0,6 Hz à 4,34 Hz Points de données 256 x 256 512 x 512Contrôle de balayage XY : N/A 18 bits, Z : N/A 16 bits, retour numérique DSP de type retour, échantillonnage des données Un A/N 14 bits et un double A/N 16 bits multicanal simultanément,Taux d'échantillonnage de retour 64.0KHz, USB2.0, Compatible avec Windows 98/2000/XP/7/8
A63.7081 Microscope électronique à balayage pour pistolet à émission de champ Schottky Pro FEG SEM
Pistolet à émission de champ Schottky Microscope électronique à balayage Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x15x ~ 800000x Microscope électronique à balayage de pistolet à émission de champ SchottkyAccélération du faisceau électronique avec alimentation en courant de faisceau stable Excellente image sous basse tensionL'échantillon sans conduction peut être observé directement, pas besoin d'être pulvérisé en basse tensionFacile& Interface de fonctionnement conviviale, entièrement contrôlée par la souris dans le système WindowsGrande salle d'échantillonnage avec scène motorisée eucentrique à cinq axes de grande taille, diamètre maximal de l'échantillon 320 mm
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