A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM

Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

15x ~ 800000x Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope

Akselerasi E-Beam Dengan Pasokan Arus Balok Stabil Gambar Yang Sangat Baik Di Bawah Tegangan Rendah

Sampel Non Konduksi Dapat Diamati Secara Langsung Tidak Perlu Tersebar Pada Tegangan Rendah

Mudah& Antarmuka Operasi yang Ramah, Semua Dikontrol Oleh Mouse Di Sistem Windows

Ruang Sampel Besar Dengan Tahap Bermotor Eucentric Lima Sumbu Ukuran Besar, Max Specimen Dia.320mm


HUBUNGI KAMI
KIRIM PERTANYAAN SEKARANG

Situs web:

www.optoedu.com

Telepon:

+0086-10-88696020

Telepon:

+0086-13911110627

A63.7081_01.jpg



Deskripsi Produk




A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM
Resolusi1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Pembesaran15x ~ 800000x
Pistol ElektronPistol Elektron Emisi Schottky
Arus Berkas Elektron10pA ~ 0,3μA
Mempercepat Voatage0 ~ 30KV
Sistem Vakum2 Pompa Ion, Pompa Molekuler Turbo, Pompa Mekanis
DetektorSE: Detektor Elektron Sekunder Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Detektor)
BSE: Detektor Hamburan Belakang Segmentasi Empat Segmentasi Semikonduktor
CCD
Tahap SpesimenTahap Bermotor Eucentric Lima Sumbu
Jangkauan PerjalananX0 ~ 150mm
Y0 ~ 150mm
Z0 ~ 60mm
R360º
T-5º ~ 75º
Diameter Spesimen Maks320mm
ModifikasiEBL; STM; AFM; Tahap Pemanasan; Tahap Cryo; Tahap Tarik; Manipulator Mikro-nano; SEM + Mesin Pelapis; SEM + Laser Dll
AksesorisX-Ray Detector (EDS), EBSD, CL, WDS, Mesin Pelapis Dll

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Keuntungan dan Kasus
Pemindaian mikroskop elektron (sem) cocok untuk pengamatan topografi permukaan logam, keramik, semikonduktor, mineral, biologi, polimer, komposit dan material satu dimensi, dua dimensi dan tiga dimensi berskala nano (citra elektron sekunder, gambar elektron backscattered). dapat digunakan untuk menganalisis titik, garis dan komponen permukaan mikroregion.Ini banyak digunakan dalam perminyakan, geologi, bidang mineral, elektronik, bidang semikonduktor, kedokteran, bidang biologi, industri kimia, bidang bahan polimer, investigasi kriminal keamanan publik, pertanian, kehutanan dan bidang lainnya.


A63_13.jpg

A63.7081_15.jpg

A63.7081_16.jpg



informasi perusahaan

_02_02.jpg


IF YOU HAVE MORE QUESTIONS,WRITE TO US
Just tell us your requirements, we can do more than you can imagine.
Nama
Telepon/WhatsApp
Surel
Nama perusahaan
Isi