A63.7081 Schottky Field Emission Gun Pemindaian Mikroskop Elektron Pro FEG SEM

Schottky Field Emission Gun Pemindaian Mikroskop Elektron Pro FEG SEM, 15x~800000x

15x~800000x Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope

Percepatan E-Beam Dengan Pasokan Arus Balok Stabil Gambar Luar Biasa Di Bawah Tegangan Rendah

Sampel Non Konduksi Dapat Diamati Secara Langsung Tidak Perlu Tergagap Dalam Tegangan Rendah

Mudah& Antarmuka Operasi Ramah, Semua Dikendalikan Oleh Mouse Di Sistem Windows

Ruang Sampel Besar Dengan Lima Sumbu Panggung Bermotor Eucentric Ukuran Besar, Spesimen Maks Dia.320mm


KIRIM PERTANYAAN SEKARANG
HUBUNGI KAMI

Situs web:

www.optoedu.com

Telepon:

+0086-10-88696020

Telepon:

+0086-13911110627
Kirim pertanyaan Anda

A63.7081_01.jpg



Deskripsi Produk




A63.7081 Schottky Field Emission Gun Pemindaian Mikroskop Elektron Pro FEG SEM
Resolusi1nm@30KV(SE); 3nm@1KV(SE); 2.5nm @ 30KV (BSE)
Pembesaran15x~800000x
Senjata ElektronSenapan Elektron Emisi Schottky
Arus Berkas Elektron10pA~0,3μA
Mempercepat Voatage0~30KV
Sistem Vakum2 Pompa Ion, Pompa Molekul Turbo, Pompa Mekanik
DetektorSE: Detektor Elektron Sekunder Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Detektor)
BSE: Semikonduktor Empat Segmentasi Kembali Detektor Hamburan
CCD
Tahap SpesimenPanggung Bermotor Eucentric Lima Sumbu
Jangkauan PerjalananX0~150mm
kamu0~150mm
Z0~60mm
R360
T-5º~75º
Diameter Spesimen Maks320mm
ModifikasiEBL; STM; AFM; Panggung Pemanasan; Panggung Cryo; Panggung Tarik; Manipulator Mikro-nano; SEM + Mesin Pelapis; SEM + Laser Dll.
AksesorisDetektor Sinar-X (EDS), EBSD, CL, WDS, Mesin Pelapis Dll.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Keuntungan dan Kasus
Scanning electron microscopy (sem) cocok untuk pengamatan topografi permukaan logam, keramik, semikonduktor, mineral, biologi, polimer, komposit dan material satu dimensi, dua dimensi dan tiga dimensi skala nano (gambar elektron sekunder, gambar elektron backscattered). Dapat digunakan untuk menganalisis komponen titik, garis dan permukaan mikroregion. Ini banyak digunakan dalam minyak bumi, geologi, bidang mineral, elektronik, bidang semikonduktor, kedokteran, bidang biologi, industri kimia, bidang bahan polimer, penyidikan tindak pidana keamanan umum, pertanian, kehutanan dan bidang lainnya.


A63_13.jpg

A63.7081_15.jpg

A63.7081_16.jpg



informasi perusahaan

_02_02.jpg


IF YOU HAVE MORE QUESTIONS,WRITE TO US
Just tell us your requirements, we can do more than you can imagine.
Nama
Telepon/WhatsApp
Surel
Nama perusahaan
Isi
Chat
Now

Kirim pertanyaan Anda