A63.7081 Pistola de Emissão de Campo Schottky Microscópio Eletrônico de Varredura Pro FEG SEM
Microscópio eletrônico de varredura com pistola de emissão de campo Schottky Pro FEG SEM, 15x~800000x
Microscópio eletrônico de varredura com pistola de emissão de campo Schottky 15x~800000x
Aceleração E-Beam Com Fornecimento de Corrente de Feixe Estável Excelente Imagem Sob Baixa Tensão
Amostra de não condução pode ser observada diretamente, sem necessidade de pulverização em baixa tensão
Fácil& Interface de operação amigável, tudo controlado pelo mouse no sistema Windows
Sala de Amostra Grande com Estágio Motorizado Eucêntrico de Cinco Eixos Tamanho Grande, Max Amostra Dia.320mm
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| A63.7081 Pistola de Emissão de Campo Schottky Microscópio Eletrônico de Varredura Pro FEG SEM | ||
| Resolução | 1 nm@30KV(SE); 3 nm@1KV(SE); 2,5nm@30KV(BSE) | |
| Ampliação | 15x~800000x | |
| Canhão de elétrons | Pistola de elétrons de emissão Schottky | |
| Corrente do feixe de elétrons | 10pA~0,3μA | |
| Acelerando Voatage | 0~30KV | |
| Sistema de vácuo | 2 bombas de íons, bomba molecular turbo, bomba mecânica | |
| Detector | SE: Detector de elétrons secundários de alto vácuo (com proteção do detector) | |
| BSE: Detector de Espalhamento Traseiro de Quatro Segmentação Semicondutor | ||
| CCD | ||
| Estágio de Amostra | Palco Motorizado Eucêntrico de Cinco Eixos | |
| Faixa de viagem | X | 0~150mm |
| S | 0~150mm | |
| Z | 0~60mm | |
| R | 360º | |
| T | -5º~75º | |
| Diâmetro máximo da amostra | 320 mm | |
| Modificação | EBL; STM; AFM; Estágio de Aquecimento; Estágio Cryo; Estágio de Tração; Manipulador Micro-nano; SEM + Máquina de Revestimento; SEM + Laser Etc. | |
| Acessórios | Detector de Raio X (EDS),EBSD,CL,WDS,Máquina de Revestimento Etc. | |
| A microscopia eletrônica de varredura (sem) é adequada para a observação da topografia da superfície de metais, cerâmicas, semicondutores, minerais, biologia, polímeros, compósitos e materiais em nanoescala unidimensionais, bidimensionais e tridimensionais (imagem eletrônica secundária, Ele pode ser usado para analisar os componentes de ponto, linha e superfície da microrregião. É amplamente utilizado em petróleo, geologia, campo mineral, eletrônica, campo de semicondutores, medicina, campo de biologia, indústria química, campo de material polimérico, investigação criminal de segurança pública, agricultura, silvicultura e outras áreas. |
