Универсальный поставщик микроскопов из Китая.
Язык

A63.7081 Автоэмиссионный пистолет Шоттки Сканирующий электронный микроскоп Pro FEG SEM

Сканирующий электронный микроскоп Schottky Field Emission Gun Pro FEG SEM, 15x~800000x

15x~800000x Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки

Ускорение электронного луча со стабильной подачей тока луча Отличное изображение при низком напряжении

Образец без проводимости можно наблюдать напрямую, нет необходимости распылять его при низком напряжении

Легкий& Дружественный рабочий интерфейс, все управление с помощью мыши в системе Windows

Большая комната для образцов с пятиосным эуцентрическим моторизованным столиком большого размера, максимальный диаметр образца 320 мм


ОТПРАВИТЬ ЗАПРОС СЕЙЧАС
СВЯЗАТЬСЯ С НАМИ

Эл. адрес:

sale@cnoec.com

Интернет сайт:

www.optoedu.com

телефон:

+0086-10-88696020

Телефон:

+0086-13911110627
Отправить запрос

A63.7081_01.jpg



Описание продукта




A63.7081 Автоэмиссионный пистолет Шоттки Сканирующий электронный микроскоп Pro FEG SEM
Разрешение1 нм при 30 кВ (ЮВ); 3 нм @ 1 кВ (SE); 2,5 нм при 30 кВ (BSE)
Увеличение15x~800000x
Электронная пушкаЭмиссионная электронная пушка Шоттки
Ток электронного луча10 пА~0,3 мкА
Ускорение путешествия0~30кВ
Вакуумная система2 ионных насоса, турбомолекулярный насос, механический насос
ДетекторSE: Высоковакуумный детектор вторичных электронов (с защитой детектора)
BSE: Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния
ПЗС
Стадия образцаПять осей Eucentric моторизованная сцена
Диапазон перемещенияИкс0~150мм
Д0~150мм
Z0~60мм
р360º
Т-5º~75º
Максимальный диаметр образца320мм
МодификацияEBL, STM, AFM, стадия нагрева, стадия крио, стадия растяжения, микро-нано манипулятор, SEM + машина для нанесения покрытий, SEM + лазер и т. д.
АксессуарыРентгеновский детектор (EDS), EBSD, CL, WDS, лакировальная машина и т. Д.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Преимущество и случаи
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) подходит для наблюдения за топографией поверхности металлов, керамики, полупроводников, минералов, биологии, полимеров, композитов и наноразмерных одномерных, двумерных и трехмерных материалов (вторичное электронное изображение, электронное изображение с обратным рассеянием). Его можно использовать для анализа точечных, линейных и поверхностных компонентов микрорегиона. Он широко используется в нефтяной, геологической, минеральной, электронике, полупроводниковой области, медицине, биологии, химической промышленности, области полимерных материалов, уголовное расследование общественной безопасности, сельского хозяйства, лесного хозяйства и других областях.


A63_13.jpg

A63.7081_15.jpg

A63.7081_16.jpg



Информация о компании

_02_02.jpg


IF YOU HAVE MORE QUESTIONS,WRITE TO US
Just tell us your requirements, we can do more than you can imagine.
Имя
Электронная почта
Содержание
Chat
Now

Отправить запрос