Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки A63.7081 Pro FEG SEM

Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки, 15x ~ 800000x

Ускорение электронного луча со стабильной подачей тока луча Превосходное изображение при низком напряжении

Непроводящий образец можно наблюдать напрямую, нет необходимости распылять его при низком напряжении

Легко& Дружественный рабочий интерфейс, все управляется мышью в системе Windows

Большая комната для образцов с эуцентрической моторизованной сценой с пятью осями Большой размер, максимальный диаметр образца 320 мм


СВЯЗАТЬСЯ С НАМИ
ОТПРАВИТЬ ЗАПРОС СЕЙЧАС

Эл. адрес:

sale@cnoec.com

Интернет сайт:

www.optoedu.com

телефон:

+0086-10-88696020

Телефон:

+0086-13911110627

A63.7081_01.jpg



Описание товара




Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки A63.7081 Pro FEG SEM
Разрешение1 нм @ 30 кВ (SE); 3 нм @ 1 кВ (SE); 2,5 нм @ 30 кВ (BSE)
Увеличение15x ~ 800000x
Электронная пушкаЭмиссионная электронная пушка Шоттки
Ток электронного луча10 пА ~ 0,3 мкА
Ускорение путешествия0 ~ 30 кВ
Вакуумная система2 ионных насоса, турбомолекулярный насос, механический насос
ДетекторSE: Детектор вторичных электронов высокого вакуума (с защитой детектора)
BSE: Полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния
ПЗС-матрица
Образец СтадияЭуцентрический моторизованный столик с пятью осями
Диапазон перемещенияИкс0 ~ 150 мм
Y0 ~ 150 мм
Z0 ~ 60 мм
р360º
Т-5º ~ 75º
Максимальный диаметр образца320 мм
МодификацияEBL; STM; AFM; этап нагрева; этап крио; этап растяжения; микронано-манипулятор; SEM + машина для нанесения покрытий; SEM + лазер и т. Д.
АксессуарыДетектор рентгеновского излучения (EDS), EBSD, CL, WDS, лакировочная машина и т. Д.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Преимущество и случаи
Сканирующая электронная микроскопия (sem) подходит для наблюдения топографии поверхности металлов, керамики, полупроводников, минералов, биологии, полимеров, композитов и наноразмерных одномерных, двумерных и трехмерных материалов (вторичное электронное изображение, электронное изображение с обратным рассеянием). Его можно использовать для анализа точечных, линейных и поверхностных компонентов микрорегиона. Он широко используется в нефти, геологии, месторождениях полезных ископаемых, электронике, полупроводниках, медицине, биологии, химической промышленности, области полимерных материалов уголовное расследование в сфере общественной безопасности, сельского, лесного и других отраслей.


A63_13.jpg

A63.7081_15.jpg

A63.7081_16.jpg



Информация о компании

_02_02.jpg


IF YOU HAVE MORE QUESTIONS,WRITE TO US
Just tell us your requirements, we can do more than you can imagine.
Имя
Телефон/WhatsApp
Электронная почта
Название организации
Содержание