A1 Складний мікроскоп
A63 Sem скануючий електронний мікроскоп
Скануючий електронний мікроскоп Pro FEG SEM, 15x~800000x15x~800000x Скануючий електронний мікроскоп ШотткіПрискорення електронного променя зі стабільним живленням струму Прекрасне зображення при низькій напрузіНепровідний зразок можна спостерігати безпосередньо, його не потрібно розпилювати при низькій напрузіЛегко& Зручний інтерфейс роботи, все керується мишею в системі WindowsВелика кімната для зразків з п'ятьма осями Евцентрична моторизована сцена великого розміру, максимальний діаметр зразка 320 мм